ОСНОВНЫЕ РАЗДЕЛЫ:

ПОИСК ПО ПОРТАЛУ:
Главная > ФГАОУ ВО НИ ТПУ > Ректорат > Приборная база > Атомно-эмисионный спектрометр «ДФС-458C»
Центр измерений свойств материалов
  
    Атомно-эмисионный спектрометр «ДФС-458C»     


Назначение и область применения

Атомно-эмиссионный спектральный анализ используется для определения элементного состава материалов и покрытий. Особенность метода заключаются в отсутствии жестких требований к пробоподготовке, возможности "объемного" анализа материала, низкой стоимости, возможности проведения большого количества анализов в течение короткого времени. Спектроаналитическая установка "ДФС-458С" позволяет проводить эмиссионный спектральный анализ проб в любом агрегатном состоянии. Качественный и количественный анализ металлов и сплавов, горных пород, почв, нефтей и нефтепроуктов, сельскохозяйственного сырья и пищевых продуктов, лекарственных препаратов, биологических жидкостей, тканей животных и человека с целью диагностики заболеваний др. Комплекс "ДФС-458С" может быть использован для решения аналитических задач в геологии, химии, металлургии, приборостроении, криминалистике, медицине, археологии, микроэлектронной, атомной и химической промышленности.

Методика измерения

Прибор регистрирует спектр пробы без пропусков позиционно-чувствительными линейными приемниками излучения. Управление работой прибора и обработку результатов измерений производит персональный компьютер.

В отличие от широко известных приборов для исследования элементного состава материалов комплекс "ДФС-458С" позволяет проводить анализ проб практически без предварительной подготовки образцов, что сказывается на неизменности состава материала и, как следствие, на корректности получаемых результатов. Оптическая система построена на основе схемы с вогнутой дифракционной решеткой имеющей нерегулярный шаг нарезки и криволинейный штрих для коррекции аберраций. Радиус кривизны подложки R=1000 мм. Система регистрации излучения реализована в виде фотоэлектрической приставки, подключенной к компьютеру. Программное обеспечение комплекса, работающее под Windows-95/98/2000, позволяет: регистрировать спектры, просматривать их в различных масштабах (до четырех спектров одновременно), строить градуировочные графики, создавать методики для спектрального анализа, производить анализ (до 1000 проб одновременно), осуществлять распечатку спектров и протокола с результатами анализа. Программное обеспечение снабжено мощной справочной системой, которая позволяет быстро получать информацию об аналитических линиях, их чувствительности, мешающих линиях и т.д.

Технические характеристики


Спектральный диапазон, нм 180 - 700
Чувствительность, % 10-4 – 10-6

Сегодня
19 апреля 2024 / Friday / Неделя четная
Time tableРасписание
2011 © Томский политехнический университет
При полном или частичном использовании текстовых и графических материалов с сайта ссылка на портал ТПУ обязательна