SEARCH:
Main > Personal Pages > Штейн Александр Михайлович > English > publications

Штейн Александр Михайлович
Кандидат технических наук

Научно-производственная лаборатория "Радиационные системы досмотра и промышленной безопасности", Старший научный сотрудник


Вн. телефон: 2716
написать сообщение
  
    New Tab     

Список публикаций

Количество записей: 21

  1. Digital X-Ray Flat Panel Housing for Operation at Extremely Low Temperatures / F. A. Simankin [et al.] // Materials Science Forum : Scientific Journal. — 2019. — Vol. 942 : Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance. — [P. 68-76]. — URL: https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.942.68

  2. Estimation of Parameters of Digital Radiography Systems / S. P. Osipov [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. — 2018. — Vol. 65, iss. 10. — [P. 2732-2742]. — URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2870162

  3. Штейн, А. М. Распознавание материалов методом дуальных энергий в досмотровых комплексах с бетатронными источниками излучения : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук / А. М. Штейн ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет ; науч. рук. С. В. ЧахловТомск, 2017. — 1 файл (853 KB). — URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/45779

  4. Штейн, А. М. Распознавание материалов методом дуальных энергий в досмотровых комплексах с бетатронными источниками излучения : диссертация на соискание учёной степени кандидата технических наук / А. М. Штейн ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет ; науч. рук. С. В. ЧахловТомск, 2017. — 1 файл (5 030 KB). — URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/46903

  5. Штейн, А. М. Распознавание материалов методом дуальных энергий в досмотровых комплексах с бетатронными источниками излучения : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. М. Штейн ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; науч. рук. С. В. ЧахловТомск : [Б. и.], 2017. — 21 с. : ил.

  6. Штейн, А. М. Распознавание материалов методом дуальных энергий в досмотровых комплексах с бетатронными источниками излучения : диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. М. Штейн ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; науч. рук. С. В. ЧахловТомск : [Б. и.], 2017. — 145 л. : ил.

  7. New method of measuring µ-focus spots of X-ray tubes / M. Gnedin [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2017. — Vol. 881 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2017). — [012031, 6 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/881/1/012031

  8. Experimental Research of High-Energy Capabilities of Material Recognition by Dual-Energy Method for the Low- Dose Radiation / A. Abashkin [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2016. — Vol. 132 : Modern Technologies for Non-Destructive Testing. — [012012, 5 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/132/1/012012

  9. Betatron Application in Mobile and Relocatable Inspection Systems for Freight Transport Control / S. V. Chakhlov [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — [012024, 5 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012024

  10. Investigations and Non-destructive Testing in New Building Design / V. A. Klimenov [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — [012027, 6 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012027

  11. Adequacy Criteria of Models of the Cargo Inspection System with Material Discrimination Option / S. P. Osipov, S. V. Chakhlov, O. S. Osipov [et al.] // Journal of Physics: Conference Series. — 2016. — Vol. 671 : Innovations in Non-Destructive Testing (SibTest 2015). — [012010, 6 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/671/1/012010

  12. Mass Determination Algorithms Using High Energy Digital Radiography / S. P. Osipov, V. A. Klimenov, O. S. Osipov [et al.] // Advanced Materials Research : Scientific Journal. — 2015. — Vol. 1085 : Prospects of Fundamental Sciences Development (PFSD-2014). — [P. 455-459]. — URL: http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.1085.455

  13. About accuracy of the discrimination parameter estimation for the dual high-energy method / S. P. Osipov, S. V. Chakhlov, O. S. Osipov [et al.] // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2015. — Vol. 81 : Radiation-Thermal Effects and Processes in Inorganic Materials. — [012082, 13 p.]. — URL: http://dx.doi.org/10.1088/1757-899X/81/1/012082

  14. Экспериментальные исследования возможности распознавания материалов высокоэнергетическим методом дуальных энергий для малых доз облучения / А. Д. Абашкин [и др.] ; науч. рук. С. П. Осипов // Ресурсоэффективные системы в управлении и контроле: взгляд в будущее : сборник научных трудов IV Международной конференции школьников, студентов, аспирантов, молодых ученых, г. Томск. 5-10 октября 2015 г. / Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ). — 2015. — Т. 1. — [С. 10-13]. — URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/21905

  15. Исследование и неразрушающий контроль при разработке новых строительных конструкций / В. А. Клименов, А. А. Овчинников, С. П. Осипов [и др.] // Информационные технологии неразрушающего контроля : сборник научных трудов Российской школы конференции с международным участием, Томск, 27-30 октября 2015 г. / Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ). — 2015. — Информационные технологии неразрушающего контроля. — [С. 24-31]. — URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15338

  16. Критерии адекватности моделей досмотровых комплесов с функцией идентификации веществ объектов контроля / С. П. Осипов, С. В. Чахлов, О. С. Осипов [и др.] // Информационные технологии неразрушающего контроля : сборник научных трудов Российской школы конференции с международным участием, Томск, 27-30 октября 2015 г. / Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ). — 2015. — Информационные технологии неразрушающего контроля. — [С. 59-67]. — URL: http://earchive.tpu.ru/handle/11683/15360

  17. Штейн, А. М. Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии / А. М. Штейн, В. Н. Твердохлебов, Е. Ю. Усачёв ; науч. рук. В. Н. Твердохлебов // Современные техника и технологии : 14 Международная научно-практическая конференция студентов, аспирантов и молодых ученых, г. Томск, 24-28 марта 2008 г. / Томский политехнический университет (ТПУ). — 2008. — Т. 1. — С. 524-526

  18. Штейн, А. М. Микрофокусные рентгеновские аппараты для промышленной дефектоскопии / А. М. Штейн, В. Н. Твердохлебов, Е. Ю. Усачев // Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ] / Томский политехнический университет (ТПУ). — 2008. — Неразрушающий контроль и диагностика. — [С. 35-38]. — URL: http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/2008/v312/i2app/08.pdf

  19. Применение цифровой радиографии и рентгеновской вычислительной томографии при исследовании строительных конструкций и в строительном материаловедении = Digital radiography and x-ray computerized tomography in building construction and construction materials science / С. П. Осипов, В. А. Клименов, А. В. Батранин [и др.] // Вестник Томского государственного архитектурно-строительного университета / Томский государственный архитектурно-строительный университет (ТГАСУ). — 2015. — № 6 (53). — [С. 116-127]. — URL: http://elibrary.ru/item.asp?id=24988542

  20. Автоматическое получение цифрового панорамного изображения сварного шва / С. В. Чахлов, А. М. Штейн, М. М. Штейн [и др.] // Дефектоскопия. — 2019. — № 12. — [С. 64-68]. — URL: https://www.elibrary.ru/item.asp?id=41368595

Страницы: 1 2

GENERAL CONTACT DETAILS:
Tomsk Polytechnic University
30, Lenin Avenue, Tomsk, 634050, Russia
UNIVERSITY OFFICE:
Office 127, 30, Lenin Avenue, Tomsk, 634050, Russia
Telephone: +7(3822) 56-34-70, Fax: +7(3822) 56-38-65
E-mail: tpu@tpu.ru
PORTAL SOLUTIONS DEPARTMENT:
Office 125, 4a, Usov Str., Tomsk, 634050, Russia
Tel./fax: +7(3822) 70-50-85
E-mail: webmaster@tpu.ru
2016 © Tomsk Polytechnic University