Разработана новая методика для определения радиуса кривизны изгиба отражающих атомных плоскостей с помощью кривых качания монокристалла.
Разработана новый спектрометр рентгеновского излучения, для которого линейная и угловая дисперсия управляемая.
Разработана полосовой фильтр жесткого рентгеновского излучения с управляемыми параметрами.
Разработан новый рентгенодифракционный метод для исследования температурного и деформационного поля в кристаллах. Показано, что последнее дает возможность измерить коэффициент анизотропии теплового расширения.
Разработан программный пакет для численных расчетов параметров дифрагированных пучков (отражённых и прошедших), при наличии внешних воздействий (температурный градиент и акустическое поле) в среде LabVIEW