20-21 ноября 2009 года в Российском университете дружбы народов прошла Восьмая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2009», в которой приняли участие магистранты ЭФФ Томского политехнического университета Анна Безшлях и Павел Баранов. В этом году, не смотря на экономическую ситуацию, конференцию посетили более 300 инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из разных уголков России, стран СНГ и Балтии. 144 доклада были размещены в сборнике трудов конференции, а на секционных заседаниях выступило более 90 докладчиков, в том числе представитель ТПУ Павел Баранов. Технические специалисты National Instruments провели 8 презентаций, посвященных различным образовательным, научным и инженерным приложениям технологий NI, и 8 интерактивных мастер-классов по робототехнике, программному обеспечению LabVIEW и аппаратным платформам National Instruments, включая NI ELVIS, PXI, SCXI.

На пленарных докладах National Instruments говорилось о важности инженерного образования, о том, что именно квалифицированные инженеры являются ключом к решению современных социальных и экономических проблем. В докладах также были освящены тенденции развития компании National Instruments и технологии, такие как ПЛИС, для работы с которыми компания прикладывает огромные усилия.

На пленарных заседаниях также выступили представители образовательных центров NI в МГУ им. М.В. Ломоносова, РУДН, КГТУ им. А.Н. Туполева, которые рассказали о своих последних разработках, проектах и планах на будущее. Многие из руководителей центров участвовали в дискуссиях, посвященных коммерческим разработкам в вузах, организации малых предприятий при вузах и уровню подготовки современных абитуриентов и выпускников вузов. Они делились своим опытом по привлечению и мотивации студентов, а также о методах улучшения уровня подготовки кадров и взаимодействию вузов с промышленностью.

Участникам конференция была представлена федеральная программа «Робототехника». Алексей Корнилов, руководитель программы, подробно рассказал о том, как она помогает вовлечению молодежи в научно-техническое творчество, осуществляет раннюю профориентацию, дает прозрачный механизм получения участниками инженерных знаний и навыков, позволяет выявить кандидатов, продемонстрировавших значимые инженерно-технические способности, а также эффективно реализовать профессиональный, инновационный и предпринимательский потенциал.

Второй год подряд в программу конференции были включены технические саммиты. В этом году за два дня конференции было проведено 8 саммитов по различным направлениям: LabVIEW 2009 - новые возможности среды разработки, LabVIEW и другие среды разработки, ВЧ-платформа NI для приложений связи и телекоммуникаций, устройства сбора данных для автоматизации эксперимента, модульные приборы PXI в электронике и электротехнике, многоканальные системы измерения сигналов с датчиков для научных и испытательных стендов, встраиваемые системы измерения и управления, практикумы по техническим дисциплинам. Инженеры и технические специалисты компании National Instruments рассказали о новых продуктах и решениях в различных направлениях, подчеркнули перспективность использования технологий NI, простоту их использования и интеграции в новые и уже существующие системы.

На интерактивных мастер-классах любой участник, вне зависимости от уровня подготовки, мог вживую увидеть и поучиться программированию в LabVIEW, использованию модульных приборов PXI, систем для измерения сигналов с датчиков, созданию роботов и работе с платформой NI ELVIS.

Свои готовые стенды, демонстрационные работы и приложения представили на выставке образовательные центры National Instruments и команды разработчиков из МГУ им. М.В. Ломоносова, РУДН, ЛЭТИ, МИРЭА, МЭИ, Орел ГТУ, СЗТУ, УГТУ УПИ, представители Российского сообщества разработчиков LabVIEW Portal и победители сезона 2008-2009 программы «Робототехника». Впервые на выставке были представлены разработки Томского политехнического университета. Анна и Павел продемонстрировали лабораторные практикумы по электронике, метрологии и информационно-измерительным системам с использованием технологий виртуальных приборов National Instruments и графической программной среды LabVIEW. Представленные материалы вызвали интерес участников и организаторов конференции.

В целом конференция прошла в дружелюбной и располагающей к неформальному общению обстановке. Профессора, студенты и инженеры компании National Instruments охотно делились своим опытом и знаниями, обсуждали особенности использования современного измерительного оборудования и задавали друг другу интересные технические вопросы.

Безшлях Анна, Баранов Павел, магистранты ЭФФ