SEARCH:
Main > Personal Pages > Кравченко Евгений Владимирович > English > Publications

Кравченко Евгений Владимирович
Кандидат технических наук

Научно-образовательный центр И.Н.Бутакова, Доцент


Вн. телефон: 1619
написать сообщение
Расписание
  
    New Tab     
Prediction of power semiconductors devices reliability working in cyclic mode // EPJ Web of Conferences 76, 01014 (2014)
Надежность работы узла авиационной радиоэлектроники в стационарном режиме работы при пониженном атмосферном давлении // Фундаментальные исследования. - 2013 - №. 6 -5. - C. 1079-1084
Моделирование зажигания смесевого топлива источником ограниченного теплосодержания при учете зависимости теплофизических характеристик материалов и веществ от температуры // Химическая физика и мезоскопия. - 2013 - Т. 15 - №. 2. - C. 208-215
A new approach to numerical analysis of reliability indices in electronics
Research methods of reliability indicators of rectifier diode in tablet execution
The reliability of the power semiconductor module on the operating temperature
Increase resource power electronics module on the physics of failure method
Влияние СВЧ-излучения на тепловой режим системы "полимер– полупроводник–композит". ИФЖ. 2015. ТОМ 88, № 6 стр. 1336-1344

Список публикаций

Количество записей: 43

  1. Чернова, Г. А. О выборе стратегии технического обслуживания гидроагрегата №2 Саяно-Шушенской ГЭС / Г. А. Чернова, Е. В. Кравченко // Энергетика: Эффективность, надежность, безопасность : материалы XVIII Всероссийской научно-технической конференции, 5-7 декабря 2012 г., Томск / Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) ; ред. кол. В. В. Литвак [и др.]. — 2012. — [С. 502-505]. — URL: http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2012/C15/195.pdf

  2. Кузнецов, Г. В. Влияние старения полимеров на показатели надежности типичного печатного узла радиоэлектронной аппаратуры / Г. В. Кузнецов, Е. В. Кравченко // Инженерно-физический журнал. — 2007. — Т. 80, № 5. — [С. 187-191]. — URL: http://elibrary.ru/item.asp?id=15509955

  3. Kuznetsov, G. V. Influence of polymer aging on reliability indices of a typical printed-circuit assembly of radioelectronic equipment / G. V. Kuznetsov, E. V. Kravchenko // Journal of Engineering Physics and Thermophysics : Scientific Journal. — 2007. — Vol. 80, iss. 5. — [P. 1050-1054]. — URL: http://dx.doi.org/10.1007/s10891-007-0137-2

Страницы: 1 2 3

GENERAL CONTACT DETAILS:
Tomsk Polytechnic University
30, Lenin Avenue, Tomsk, 634050, Russia
UNIVERSITY OFFICE:
Office 127, 30, Lenin Avenue, Tomsk, 634050, Russia
Telephone: +7(3822) 56-34-70, Fax: +7(3822) 56-38-65
E-mail: tpu@tpu.ru
PORTAL SOLUTIONS DEPARTMENT:
Office 125, 4a, Usov Str., Tomsk, 634050, Russia
Tel./fax: +7(3822) 70-50-85
E-mail: webmaster@tpu.ru
2016 © Tomsk Polytechnic University