ОСНОВНЫЕ РАЗДЕЛЫ:

Поиск по порталу:
  
  
    Главная     
    Магистратура КИСМ     
    Сотрудники     
    Контакты     
    История кафедры     

Открыта в 1962 году. Основатель кафедры и её первый заведующий – проф. д.т.н. Ройтман М.С. С 1999 по 2014 гг. кафедрой заведовал д.т.н., проф. Муравьев С.В. На данный момент заведующим кафедрой является д.т.н., профессор Стукач О.В. До 1999 года называлась кафедрой радиотехники. С 1986 г. стала профилирующей и первый выпуск студентов сделан в 1991 г. Всего подготовлено 352 инженера. Число преподавателей – 19, из них 2 профессора и 14 доцентов. Направление подготовки бакалавров: 200500 – метрология, стандартизация и сертификация. Специальность подготовки инженеров: 200503 – стандартизация и сертификация (в приборостроении). Направление подготовки магистров: 200501 – компьютеризация измерений и контроля.

Кафедра имеет длительный опыт разработки прецизионных источников и измерителей напряжений и токов, которые используются в национальных эталонах России. Ряд внедренных в массовое серийное производство генераторов сигналов группы Г3 разработан на кафедре. В настоящее время исследования и разработки ведутся в следующих областях: метрологические испытания средств учета электрической энергии; средства контроля и измерения параметров технологических процессов (в электрохимии, сварке, строительстве и т.д.) и их метрологическое обеспечение; программное обеспечение средств измерений и контроля; теоретическая метрология и теория измерений.

Кафедра с 1994 г. регулярно принимает участие в конгрессах и симпозиумах Международной измерительной конфедерации (ИМЕКО). Организовала проведение 10-го международного симпозиума ТК7 ИМЕКО "Развитие теории измерений" в 2004 г. в Санкт-Петербурге. Имеет тесное научное сотрудничество с университетом г. Ювяскюля (Финляндия), университетом г. Генуя (Италия), Национальным университетом Сингапура.

В 2006 г. получен грант НП 2.1.2.5273 аналитической ведомственной целевой программы Рособразования "Развитие научного потенциала высшей школы (2006-2008 годы)" на проведение фундаментальных исследований в области технических наук по теме: "Параметрическая идентификация микроплазменных процессов в растворах по вольтамперным характеристикам". Объем гранта 7 млн. руб. Созданы 6 экз. компьютерной системы для регулировки и поверки электросчетчиков. Разработаны компьютерная система измерения и управления для малогабаритного бетатрона на энергию до 4 МЭВ; источник питания микроплазменной установки для нанесения функциональных и декоративных покрытий; компьютерная система измерений электрических параметров сильнотоковых процессов в растворах электролитов. На заседании Технического Комитета ИМЕКО по теории измерений ТК7 в сентябре 2006 г. в Рио-де-Жанейро (Бразилия) Муравьев С.В. избран вице-председателем комитета на ближайшие 3 года.

В 2007 г. приобретено оборудование фирмы National Instruments: рабочие места ELVIS для изучения электроники и схемотехники, модульная система согласования сигналов SCXI; крейтовая система PXI для высокопроизводительных измерений; встраиваемая реконфигурируемая измерительная система CompactRIO сверхвысокой производительности на базе ПЛИС; система визуального контроля Vision; программируемый мультиметр Agilent 3458А.

В 2008 г. продолжено оснащение кафедры современным дорогостоящим оборудованием, приобретены: осциллограф двухканальный LeCroy WaveSurfer 62Xs, многофункциональный калибратор Fluke 5520А, климатическая испытательная камера LHT-2151CL. Защищена докторская диссертация Учайкиным С.В. на тему "Разработка криогенных детекторов частиц и молекул на основе сверхпроводящего термометра и их использование в экспериментальной физике и приборостроении" в совете Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, г. Москва.

В настоящее время научные исследования ведутся по направлениям: прецизионные индуктивные делители; метрологическое обеспечение средств учета электроэнергии; теория, обработка и генерация сигналов; программные измерительные технологии; цифровой цветометрический анализ состава веществ; теория измерений и интеллектуальные измерительные системы; компьютерные системы для метрологических исследований и измерения параметров технологических процессов; калибраторы переменного напряжения.